EMS08R+

Description

Plate-forme de diagnostic par émission de rayonnement à haute résolution

Scanner automatisé avancé des interférences électromagnétiques rayonnées des circuits imprimés pour les laboratoires CEM professionnels

L’EMScannerR+ de Y.I.C. est un système de balayage automatisé de haute performance pour la pré-conformité EMI, conçu pour des diagnostics précis d’émissions rayonnées au niveau des PCB. Conçu pour le développement CEM avancé et les systèmes électroniques à grande vitesse, l’EMScannerR+ offre une résolution spatiale améliorée, une couverture de fréquence élargie et une corrélation améliorée avec les essais en chambre formelle.

Il permet aux équipes d’ingénieurs de détecter, de localiser et de quantifier les sources d’interférences électromagnétiques dès le début du cycle de conception, réduisant ainsi les risques liés à la conformité et raccourcissant les délais de mise sur le marché.

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Points forts du produit

Balayage automatisé à haute résolution en champ proche

• Réseau dense de sondes en champ proche

• Système automatisé de numérisation X-Y de circuits imprimés

• Résolution spatiale élevée des émissions

• Localisation précise des points chauds d’interférence électromagnétique rayonnée

Identifiez les sources d’émission telles que les lignes de signaux à grande vitesse, les nuds de commutation, les discontinuités de la voie de retour et les faiblesses du blindage.

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Capacité améliorée de pré-conformité en matière de rayonnement

• Balayage par émission sélective en fréquence

• Diagnostic des émissions rayonnées au niveau du circuit imprimé

• Amélioration de la corrélation avec les mesures de la chambre CISPR / FCC

• Analyse comparative des révisions de la conception

L’EMScannerR+ permet une analyse structurée des causes profondes des interférences électromagnétiques et une optimisation systématique de la compatibilité électromagnétique.

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Logiciels et outils d’analyse avancés

• Cartes thermiques des émissions en 2D et 3D

• Visualisation spectrale dans le domaine des fréquences

• Modes de détection de crête, de moyenne et avancé

• Outils de comparaison des conceptions

• Rapports automatisés et données d’ingénierie exportables

Le puissant environnement logiciel permet une analyse détaillée des émissions et une documentation professionnelle.

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Avantages techniques pour les ingénieurs CEM

• Processus de numérisation automatisé et reproductible

• Réduction de la dépendance à l’égard des installations de pré-test externes

• Dépannage EMI et optimisation de la mise en page plus rapides

• Mesure quantitative des émissions spatiales

• Amélioration de la probabilité de conformité au premier passage

Conçu pour les laboratoires CEM professionnels et les équipes de développement de matériel avancé.

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Les capacités clés en un coup d’il

• Numérisation automatisée de l’émission rayonnée des PCB

• Cartographie d’émission spatiale à haute résolution

• Validation de la référence de pré-conformité

• Analyse spectrale et comparative avancée

• Outils d’établissement de rapports de qualité technique

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Idéal pour

Ingénieurs CEM / EMI
Développement de circuits imprimés numériques à grande vitesse
Électronique automobile
Électronique industrielle et de puissance
Laboratoires de R&D avancés
Pré-certification Validation CEM

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Le Y.I.C EMScannerR+ combine un balayage en champ proche à haute résolution avec une analyse avancée des émissions rayonnées, fournissant une solution de diagnostic interne puissante pour l’ingénierie CEM professionnelle.

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Pourquoi choisir l’EMS08R+ ?

L’EMS08R+ est conçu pour offrir une fiabilité et une précision inégalées dans les environnements les plus exigeants. Conçu pour les ingénieurs qui privilégient la performance, cet appareil garantit des résultats stables pour la R&D, l’assurance qualité et la maintenance industrielle. Contactez-nous dès aujourd’hui pour une assistance technique personnalisée et des demandes de renseignements en vrac.